您的位置：
詳情介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 產品新舊 | 全新 |
GIB 精修離子束系統
用于掃描電鏡 / 雙束電鏡的氬離子束方案
Technoorg Linda 精修離子束系統的低能氬離子槍（GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當低能氬離子槍集成到掃描電鏡中時 ，其作用尤為明顯。有了集成離子槍 ，就可以在研究之前對樣品 進行精修。 實現高質量樣品的另一個重要應用是在雙束 SEM / FIB 系統中進行 FIB 樣品制備后，對 TEM 樣品進行最 終拋光和溫和的表面清潔。
可與掃描電鏡集成
帶波紋管的傳輸系統可通過連接管安裝到掃描電鏡上。連 接管輸出法蘭的尺寸與相應的 SEM 端口尺寸相匹配。通 過線性傳輸系統提供的離子源流動性，可實現理想的工作 距離（15-30 mm）。
低能量氬離子槍
低能量離子槍的直徑和長度均為 50mm。氬離子束的能 量范圍：100eV - 2kV。 2kV 時的最大束流為 70µA。離 子束為寬束，半最大全寬（FWHM）為 2mm。
半管支架
低能量離子槍安裝在半管支架中。
留言詢價
- 上一篇：SEMPREP SMART離子研磨儀
- 下一篇：Phenom MAPS大面積能譜拼接
電話4008578882
傳真 
郵箱cici.yang@phenom-china.com
公司地址上海市閔行區虹橋鎮申濱路88號上海虹橋麗寶廣場T5，705室
在線交流